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Prof. Dr.-Ing. Klaus Prume

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Effective Piezoelectric Coefficients of Ferroelectric Thin Films on Elastic Substrates / Zalachas, Nicolas ; Laskewitz, Bernd ; Kamlah, Marc ; Prume, Klaus ; Lapusta, Yuri ; Tiedke, Stephan OPUS
Prume, Klaus ; Zalachas, Nicolas ; Laskewitz, Bernd ; Kamlah, Marc (2008)
Journal of Intelligent Material Systems and Structures. 20 (2008), H. 6. Seite: 683 - 695
Electrical and electromechanical characterization of piezoelectric thin films in view of MEMS application / Tiedke, S. ; Prume, K. ; Schmitz-Kempen, T.; OPUS
Prume, Klaus (2007)
Seite: 702
ISAF 2007. Sixteenth IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics, 2007
Piezoelectric thin films: evaluation of electrical and electromechanical characteristics for MEMS devices / Prume, K. ; Muralt, P. ; Calame, F. ; Schmitz-Kempen, T. ; Tiedke, S. ; OPUS
Prume, Klaus ; Muralt, Paul ; Calame, Florian ; Schmitz-Kempen, Thorsten ; Tiedke, Stephan (2007)
IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control. 54 (2007), H. 1. Seite: 81 - 14
Extensive electromechanical characterization of PZT thin films for MEMS applications by electrical and mechanical excitation signals / Prume, Klaus ; Muralt, Paul ; Calame, Florian ; Schmitz-Kempen, Thorsten ; Tiedke, Stephan OPUS
Prume, Klaus ; Muralt, Paul ; Calame, Florian ; Schmitz-Kempen, Thorsten (2007)
Journal of Electroceramics. 19 (2007), H. 4. Seite: 407 - 411
A simple and powerful analytical model for MEMS piezoelectric multimorphs / Booij, W. E. ; Vogl, A. H. ; Wang, D. T. ; Tyholdt, F. ; Ostbo, N. P. ; Raeder, H. ; Prume, K. OPUS
Prume, Klaus ; Booij, W. E. ; Vogl, A. H. ; Wang, D. T. (2007)
Journal of Electroceramics. 19 (2007), H. 4. Seite: 387 - 393
Chemically derived seeding layer for {100}-textured PZT thin films / Tyholdt, F. ; Calame, F. ; Prume, K. ; Raeder, H. ; Muralt, P. OPUS
Prume, Klaus ; Tyholdt, Frode ; Calame, Florian ; Raeder, Henrik ; Muralt, Paul (2007)
Journal of Electroceramics. 19 (2007), H. 4. Seite: 311 - 314
Taking piezoelectric microsystems from the laboratory to production / Raeder, H. ; Tyholdt, F. ; Booij, W. ; Calame, F. ; Ostbo, N. P. ; Bredesen, R. ; Prume, K. ; Rijnders, G. ; Muralt, P. OPUS
Prume, Klaus ; Raeder, H. ; Tyholdt, F. ; Booij, W. E. (2007)
Journal of Electroceramics. 19 (2007), H. 4. Seite: 357 - 362
Analysis of shape effects on the piezoresponse in ferroelectric nanograins with and without adsorbates / Peter, F. ; Rüdiger, A. ; Dittmann, R. ; Waser, R. ; Szot, K. ; Reichenberg, B. ; Prume, K. ; OPUS
Prume, Klaus ; Peter, F. ; Rüdiger, A. ; Dittmann, R. (2005)
Applied Physics Letters . 87 (2005), H. 8. Seite: 082901 - 082901-3
Dynamic leakage current compensation in ferroelectric thin-film capacitor structures / Meyer, René ; Waser, Rainer ; Prume, Klaus ; Schmitz, Torsten ; Tiedke, Stephan OPUS
Prume, Klaus ; Meyer, René ; Waser, Rainer ; Schmitz, Torsten (2005)
Applied Physics Letters . 86 (2005), H. 14. Seite: 142907-1 - 142907-3
Simulation and measurements of the piezoelectric properties response (d33) of piezoelectric layered thin film structures influenced by the top-electrode size / Prume, K. ; Gerber, P. ; Kügeler, C. ; Roelofs, A. ; Böttger, U. ; Waser, R. ; Schmitz-Kempen, OPUS
Prume, Klaus ; Gerber, Peter ; Kügeler, Carsten ; Roelofs, Andreas (2004)
Seite: 7 - 10
14th IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics, 2004. ISAF-04. 2004
Effects of the top-electrode size on the piezoelectric properties (d33 and S) of lead zirconate titanate thin films / Gerber, P. ; Roelofs, A. ; Kügeler, C.; Böttger, U. ; Waser, R. ; Prume, K. ; OPUS
Prume, Klaus ; Gerber, P. ; Roelofs, A. ; Kügeler, C. ; Böttger, U. ; Waser, Rainer (2004)
Journal of Applied Physics . 96 (2004), H. 5. Seite: 2800 - 2804
In-situ compensation of the parasitic capacitance for nanoscale hysteresis measurements / Schmitz, T. ; Prume, K. ; Reichenberg, B. ; Roelofs, A. ; Waser, R. ; Tiedke, S. OPUS
Prume, Klaus ; Reichenberg, B. ; Roelofs, A. ; Waser, R. (2004)
Journal of the European Ceramic Society. 24 (2004), H. 6. Seite: 1145 - 1147
Electroceramics VIII
Modelling and numerical simulation of the electrical, mechanical, and thermal coupled behaviour of Multilayer capacitors (MLCs) / Prume, Klaus ; Franken, Klaus ; Böttger, Ulrich ; Waser, Rainer ; Maier, Horst R. OPUS
Prume, Klaus ; Franken, Klaus ; Böttger, Ulrich ; Waser, Rainer (2002)
Journal of the European Ceramic Society. 22 (2002), H. 8. Seite: 1285 - 1296
Compensation of the Parasitic Capacitance of a Scanning Force Microscope Cantilever Used for Measurements on Ferroelectric Capacitors of Submicron Size by Means of Finite Element Simulations / Prume, Klaus ; Roelofs, Andreas ; Schmitz, Thorsten ; Reichenb OPUS
Prume, Klaus ; Roelofs, Andreas ; Schmitz, Thorsten ; Reichenberg, Bernd (2002)
Japanese Journal of Applied Physics. 41 (2002), H. 11B. Seite: 7198 - 7201
Modellierung und Simulation der elektrisch-thermisch-mechanisch gekoppelten Eigenschaften keramischer Vielschichtstrukturen OPUS
Prume, Klaus (2001)
Aachen : Shaker 2001. - XII, 122 S. : Ill., graph. Darst.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochschul., Diss., 2001; Berichte aus der Elektrotechnik
Direct hysteresis measurements of single nanosized ferroelectric capacitors contacted with an atomic force microscope / Tiedke, S. ; Schmitz, T. ; Prume, K. ; Roelofs, A. ; Schneller, T. ; Kall, U. ; Waser, R. ; Ganpule, C. S. ; Nagarajan, V. ; Stanishevs OPUS
Prume, Klaus ; Tiedke, S. ; Schmitz, T. ; Roelofs, A. (2001)
Applied Physics Letters. 79 (2001), H. 22. Seite: 3678 - 3680
Finite-element simulation of coupled characteristics of ceramic multilayer capacitors under transient electrical loading / Prume, Klaus ; Waser, Rainer OPUS
Prume, Klaus ; Waser, Rainer (2000)
Proceedings of the 2000 12th IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics. Vol. 2. Seite: 675 - 678
ISAF 2000. Proceedings of the 2000 12th IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics
Finite-Element Analysis of Ceramic Multilayer Capacitors: Failure Probability Caused by Wave Soldering and Bending Loads / Franken, Klaus ; Maier, Horst R. ; Prume, Klaus ; Waser, Rainer OPUS
Prume, Klaus ; Franken, Klaus ; Maier, Horst R. ; Waser, Rainer (2000)
Journal of the American Ceramic Society. 83 (2000), H. 6. Seite: 1433 - 1440
Finite-Element Analysis of Ceramic Multilayer Capacitors: Modeling and Electrical Impedance Spectroscopy for a Nondestructive Failure Test / Prume, Klaus ; Waser, Rainer ; Franken, Klaus ; Maier, Horst R. ; OPUS
Prume, Klaus ; Waser, Rainer ; Franken, Klaus ; Maier, Horst R. (2000)
Journal of the American Ceramic Society. 83 (2000), H. 5. Seite: 1153 - 1159
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