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Prof. Dr.-Ing. Klaus Prume

TitelEffective Piezoelectric Coefficients of Ferroelectric Thin Films on Elastic Substrates / Zalachas, Nicolas ; Laskewitz, Bernd ; Kamlah, Marc ; Prume, Klaus ; Lapusta, Yuri ; Tiedke, Stephan
AutorenPrume, Klaus ; Zalachas, Nicolas ; Laskewitz, Bernd ; Kamlah, Marc
ErschienenJournal of Intelligent Material Systems and Structures. 20 (2008), H. 6. Seite: 683 - 695
ISBN / ISSN1045-389X
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TitelElectrical and electromechanical characterization of piezoelectric thin films in view of MEMS application / Tiedke, S. ; Prume, K. ; Schmitz-Kempen, T.;
AutorenPrume, Klaus
ErschienenSeite: 702
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BemerkungISAF 2007. Sixteenth IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics, 2007
TitelPiezoelectric thin films: evaluation of electrical and electromechanical characteristics for MEMS devices / Prume, K. ; Muralt, P. ; Calame, F. ; Schmitz-Kempen, T. ; Tiedke, S. ;
AutorenPrume, Klaus ; Muralt, P. ; Calame, F. ; Schmitz-Kempen, T.
ErschienenIEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control. 54 (2007), H. 1. Seite: 81 - 14
ISBN / ISSN0885-3010
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TitelExtensive electromechanical characterization of PZT thin films for MEMS applications by electrical and mechanical excitation signals / Prume, Klaus ; Muralt, Paul ; Calame, Florian ; Schmitz-Kempen, Thorsten ; Tiedke, Stephan
AutorenPrume, Klaus ; Muralt, Paul ; Calame, Florian ; Schmitz-Kempen, Thorsten
ErschienenJournal of Electroceramics. 19 (2007), H. 4. Seite: 407 - 411
ISBN / ISSN1385-3449
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TitelA simple and powerful analytical model for MEMS piezoelectric multimorphs / Booij, W. E. ; Vogl, A. H. ; Wang, D. T. ; Tyholdt, F. ; Ostbo, N. P. ; Raeder, H. ; Prume, K.
AutorenPrume, Klaus ; Booij, W. E. ; Vogl, A. H. ; Wang, D. T.
ErschienenJournal of Electroceramics. 19 (2007), H. 4. Seite: 387 - 393
ISBN / ISSN1385-3449
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TitelChemically derived seeding layer for {100}-textured PZT thin films / Tyholdt, F. ; Calame, F. ; Prume, K. ; Raeder, H. ; Muralt, P.
AutorenPrume, Klaus ; Tyholdt, F. ; Calame, F. ; Raeder, H.
ErschienenJournal of Electroceramics. 19 (2007), H. 4. Seite: 311 - 314
ISBN / ISSN1385-3449
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TitelTaking piezoelectric microsystems from the laboratory to production / Raeder, H. ; Tyholdt, F. ; Booij, W. ; Calame, F. ; Ostbo, N. P. ; Bredesen, R. ; Prume, K. ; Rijnders, G. ; Muralt, P.
AutorenPrume, Klaus ; Raeder, H. ; Tyholdt, F. ; Booij, W. E.
ErschienenJournal of Electroceramics. 19 (2007), H. 4. Seite: 357 - 362
ISBN / ISSN1385-3449
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TitelAnalysis of shape effects on the piezoresponse in ferroelectric nanograins with and without adsorbates / Peter, F. ; Rüdiger, A. ; Dittmann, R. ; Waser, R. ; Szot, K. ; Reichenberg, B. ; Prume, K. ;
AutorenPrume, Klaus ; Peter, F. ; Rüdiger, A. ; Dittmann, R.
ErschienenApplied Physics Letters . 87 (2005), H. 8. Seite: 082901 - 082901-3
ISBN / ISSN0003-6951
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TitelDynamic leakage current compensation in ferroelectric thin-film capacitor structures / Meyer, René ; Waser, Rainer ; Prume, Klaus ; Schmitz, Torsten ; Tiedke, Stephan
AutorenPrume, Klaus ; Meyer, René ; Waser, Rainer ; Schmitz, Torsten
ErschienenApplied Physics Letters . 86 (2005), H. 14. Seite: 142907-1 - 142907-3
ISBN / ISSN0003-6951
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TitelSimulation and measurements of the piezoelectric properties response (d33) of piezoelectric layered thin film structures influenced by the top-electrode size / Prume, K. ; Gerber, P. ; Kügeler, C. ; Roelofs, A. ; Böttger, U. ; Waser, R. ; Schmitz-Kempen,
AutorenPrume, Klaus ; Gerber, Peter ; Kügeler, Carsten ; Roelofs, Andreas
ErschienenSeite: 7 - 10
ISBN / ISSN0-7803-8410-5
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Bemerkung14th IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics, 2004. ISAF-04. 2004
TitelEffects of the top-electrode size on the piezoelectric properties (d33 and S) of lead zirconate titanate thin films / Gerber, P. ; Roelofs, A. ; Kügeler, C.; Böttger, U. ; Waser, R. ; Prume, K. ;
AutorenPrume, Klaus ; Gerber, P. ; Roelofs, A. ; Kügeler, C.
ErschienenJournal of Applied Physics . 96 (2004), H. 5. Seite: 2800 - 2804
ISBN / ISSN0021-8979
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TitelIn-situ compensation of the parasitic capacitance for nanoscale hysteresis measurements / Schmitz, T. ; Prume, K. ; Reichenberg, B. ; Roelofs, A. ; Waser, R. ; Tiedke, S.
AutorenPrume, Klaus ; Reichenberg, B. ; Roelofs, A. ; Waser, R.
ErschienenJournal of the European Ceramic Society. 24 (2004), H. 6. Seite: 1145 - 1147
ISBN / ISSN0955-2219
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BemerkungElectroceramics VIII
TitelModelling and numerical simulation of the electrical, mechanical, and thermal coupled behaviour of Multilayer capacitors (MLCs) / Prume, Klaus ; Franken, Klaus ; Böttger, Ulrich ; Waser, Rainer ; Maier, Horst R.
AutorenPrume, Klaus ; Franken, Klaus ; Böttger, Ulrich ; Waser, Rainer
ErschienenJournal of the European Ceramic Society. 22 (2002), H. 8. Seite: 1285 - 1296
ISBN / ISSN0955-2219
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TitelCompensation of the Parasitic Capacitance of a Scanning Force Microscope Cantilever Used for Measurements on Ferroelectric Capacitors of Submicron Size by Means of Finite Element Simulations / Prume, Klaus ; Roelofs, Andreas ; Schmitz, Thorsten ; Reichenb
AutorenPrume, Klaus ; Roelofs, Andreas ; Schmitz, Thorsten ; Reichenberg, Bernd
ErschienenJapanese Journal of Applied Physics. 41 (2002), H. 11B. Seite: 7198 - 7201
ISBN / ISSN0021-4922
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TitelModellierung und Simulation der elektrisch-thermisch-mechanisch gekoppelten Eigenschaften keramischer Vielschichtstrukturen
AutorenPrume, Klaus
ErschienenAachen : Shaker 2001. - XII, 122 S. : Ill., graph. Darst.
ISBN / ISSN3-8265-8309-4
BemerkungZugl.: Aachen, Techn. Hochschul., Diss., 2001; Berichte aus der Elektrotechnik
TitelDirect hysteresis measurements of single nanosized ferroelectric capacitors contacted with an atomic force microscope / Tiedke, S. ; Schmitz, T. ; Prume, K. ; Roelofs, A. ; Schneller, T. ; Kall, U. ; Waser, R. ; Ganpule, C. S. ; Nagarajan, V. ; Stanishevs
AutorenPrume, Klaus ; Tiedke, S. ; Schmitz, T. ; Roelofs, A.
ErschienenApplied Physics Letters. 79 (2001), H. 22. Seite: 3678 - 3680
ISBN / ISSN0003-6951
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TitelFinite-element simulation of coupled characteristics of ceramic multilayer capacitors under transient electrical loading / Prume, Klaus ; Waser, Rainer
AutorenPrume, Klaus ; Waser, Rainer
ErschienenProceedings of the 2000 12th IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics. Vol. 2. Seite: 675 - 678
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BemerkungISAF 2000. Proceedings of the 2000 12th IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics
TitelFinite-Element Analysis of Ceramic Multilayer Capacitors: Failure Probability Caused by Wave Soldering and Bending Loads / Franken, Klaus ; Maier, Horst R. ; Prume, Klaus ; Waser, Rainer
AutorenPrume, Klaus ; Franken, Klaus ; Maier, Horst R. ; Waser, Rainer
ErschienenJournal of the American Ceramic Society. 83 (2000), H. 6. Seite: 1433 - 1440
ISBN / ISSN0002-7820
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TitelFinite-Element Analysis of Ceramic Multilayer Capacitors: Modeling and Electrical Impedance Spectroscopy for a Nondestructive Failure Test / Prume, Klaus ; Waser, Rainer ; Franken, Klaus ; Maier, Horst R. ;
AutorenPrume, Klaus ; Waser, Rainer ; Franken, Klaus ; Maier, Horst R.
ErschienenJournal of the American Ceramic Society. 83 (2000), H. 5. Seite: 1153 - 1159
ISBN / ISSN0002-7820
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